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分析機器事業部は、ナノメートルスケールでの材料特性評価とマニピュレーションを実現する最先端のツールを提供します。

電子顕微鏡(SEMおよびTEM)、イオンビームシステム(FIB)で使用される当社のツールは、半導体、再生可能エネルギー、鉱業、金属学、法科学など、幅広い学術用途、産業用途における研究開発に利用されています。

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