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Symmetry S3®

Symmetry S3は市場における唯一の純正オールインワンEBSD検出器で、革新的なSymmetry検出器をベースとした、最先端のCMOS技術を搭載した世界初のEBSD検出器です。 すべてのEBSDアプリケーションに対応する優れた性能と、使いやすさ、革新的な機能設計を兼ね備えています。特長は以下の通りです。

  • 156 x 128ピクセルのEBSDパターン分解能で5700pps以上の指数付け速度を保証

  • 最大1244 x 1024のパターンピクセル解像度 – 高角度分解能 (HR) EBSDに最適

  • サブピクセルレベルのパターン歪みを持つ特徴的な光ファイバー接続

  • 優れた感度、あらゆるタイプの分析に有利

  • ソフトウェア制御による検出器チルト機構


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Symmetry S3

Symmetry S3は、カスタマイズされたCMOSセンサーと光ファイバーを使用して、スピード、感度、精細な回折パターンのユニークでパワフルな組み合わせを実現しています。 Symmetry S3は、AZtecソフトウェアとの組み合わせにより、あらゆる材料、あらゆる測定において優れた性能を発揮します。 最速5700ppsを超えるSymmetry S3の分析速度は、テクスチャと粒度の特性評価を数秒で可能にしますが、高いビーム電流を必要としたり、パターン分解能を犠牲にすることなく達成されます。 これは多相軽金属合金や変形鋼のような困難な試料でも、このような高速化が可能であることを意味します。

さらにSymmetry S3は、歪みのないメガピクセル解像度のEBSPを収集して、詳細なひずみ・結晶相解析を行うことができます。ソフトウェア制御の検出器チルト(ダイナミックキャリブレーション機能あり)や独自の近接センサーなどの革新的な機能により、あらゆるアプリケーションに適した検出器です。

Symmetry S3検出器は、優れた性能と使いやすさを兼ね備えており、すべてのEBSDアプリケーションに理想的な検出器です。

  • 最大指数付け速度 > 5700パターン/秒 (pps)を保証
  • 比類のない感度を実現する光ファイバーレンズ
  • 最高感度 > 1000 pps / nA
  • 最速分析時のパターン解像度 156 x 128ピクセル
  • フルメガピクセル解像度 (1244 x 1024) パターン – 高角度分解能 (HR) EBSDが必要なひずみ解析に最適
  • サブピクセルレベルの歪みにより、0.05°以下の角度精度を実現
  • 自動キャリブレーションと連動したソフトウェア制御の検出器チルトインターフェース – 全ての試料、ジオメトリでも最適な検出器ポジションと指数付け
  • 独自の近接センサー – 衝突の可能性を事前に検知し、自動的に安全な位置に検出器を移動
  • 5つの統合された前方散乱電子検出器(オプション)により、フルカラーの補色チャネリングコントラストと原子番号コントラスト画像を提供
  • ベローズSEMインターフェースで電子顕微鏡の真空度を維持
  • シンプルで直感的な検出器の設定により、常に最適な結果を取得可能

Symmetry S3検出器の性能は、最速かつ最新のEBSDデータ処理ソフトウェアAZtecCrystalに裏打ちされた強力なAZtecHKL取得プラットフォームによって実現されています。 下の比較表は、お客様が必要とする機能を提供するために最適なソフトウェアパッケージを選択するのに役立ちます。

Feature Description AZtecHKL AZtecHKL AZtecHKL
Standard Advanced Automated
AZtec EBSD マッピング ポイント分析、ラインスキャン分析、マップ分析
再解析 保存済パターンを使ったデータの再処理
AZtec Synergy  EDSとEBSDの同時マップ/ラインスキャン分析可能なオックスフォード・インストゥルメンツのEDS/EBSD統合システム
AZtec PhaseID  EDSとEBSDデータを組み合わあわせた未知結晶相の識別
AZtec データ解析 データクリーニング、グレイン検出とサイズ解析、マップエディタ
AZtecCrystalStandard 最先端のスタンドアローンEBSDデータ処理ソフトウェア。マップ解析、極点図/逆極点図、グレイン解析機能を含む。
AZtec TruPhase  EDSを使った類似の結晶構造を持った結晶相同士のリアルタイム識別 O
AZtec Autolock  予測型と反応型の試料ドリフト補正 O
Colour FSD  方位とZコントラストのカラー表示 O
PseudoSymmetry 異なった方位から類似のEBSPが得られる材料において正確に方位を測定 O
AZtecHKL Steel  相分離のためのReclassify phaseツールと専用のスチール相データベース O
AZtecCrystal Advanced ODF、材料特性、高度な分類ツールを含む包括的なスタンドアローンデータ処理パッケージ O
AZtecCrystal MapSweeper パターンシミュレーションとパターンマッチングルーチンに基づくデータセット拡張ツール O O
AZtec Large Area Mapping  複数のフィールドを取得してつなぎ合わせることで、広いサンプル領域を分析可能 O O
AZtec Image Registration  試料のナビゲーションに画像を登録して使用可能 O O
AZtec MapQueue  複数のマップ分析を自動取得 O O
CIF Import Crystal Information Fileをインポートして分析に使用可能 O O
Magnetic Field Correction  インレンズ電磁場におけるパターン歪の補正 O O O
AZtec 3D 互換性のあるFIB-SEMでの3Dデータセットの自動取得 O O

O: オプション

Symmetryを使用したアプリケーションノート

Symmetryを使ったハロゲン化鉛ペロブスカイトのEBSD分析

メチルアンモニウム鉛ハライド(MALHs)は、太陽電池、LED、レーザー、光検出器で使用される有機結晶化合物です。EBSD検出器の最近の改良により、粒径とテクスチャーの特性評価が可能になりました。

(日本語アプリケーションノート)

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マルテンサイト鋼の高解像度EBSDマッピング

マルテンサイト構造は、従来、EBSDでの測定が困難でした。ここでは、シンメトリーが提供する高い感度と詳細なパターンにより、マルテンサイト系ステンレス鋼から優れた結果を得ることができます。

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高感度EBSD検出器

CMOS搭載EBSD検出器は、サンプルの高速かつ高感度な分析を可能にします。感度はシステム全体の効率、すなわち検出量子効率(DQE)に関連しています。

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CMOS搭載EBSD検出器のパワーを引き出すために高感度が不可欠な理由

CMOS搭載EBSD検出器は、サンプルの高速かつ高感度な分析を可能にします。

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Symmetry S3 デモンストレーション

唯一のオールインワンEBSD検出器Symmetry S3の最新デモをご覧ください。


EBSD without limits...

バーチャルミーティングM&M2020 Spotlightセッションのライブ録画です。このセッションではエキスパートのDr. Pat Trimbyが新しいSymmetry S2 EBSD検出器を紹介します。

時間: 約12分

アプリケーション

Symmetry S3は、スピード、感度、汎用性を兼ね備えた唯一のEBSD検出器であり、あらゆるアプリケーション分野をカバーします。

材料特性の迅速な品質管理

  • Symmetry S3の最大分析速度は5700pps以上で、重要なサンプルの特性をわずか数秒で測定できます。
  • ここでは、二相鋼の粒度が80秒未満でASTM E2627規格に準拠して分析され、2000粒以上のグレインが測定されています。
  • 同様に、テクスチャーと相分率の迅速な特性評価により、Symmetry S3は品質管理と高いスループットが要求される試料分析のアプリケーションに理想的です。
  • 中程度のビーム電流(~20nA)のみを使用して、幅広い材料の高速分析が可能です。

High speed analysis of beam-sensitive samples

  • Symmetry S3検出器に搭載された独自の光ファイバーレンズは、比類のない感度を実現しており、ビームに敏感な材料からの優れたデータだけでなく、あらゆる種類の試料で性能を発揮します。
  • ここでは、石英(SiO2)岩石試料を1900ppsで12分以内に効果的に分析するために、適度なビーム電流のみを使用しています。
  • Symmetry S3の感度は、すべてのアプリケーションで検出器の卓越した分析速度を達成できることを保証し、大幅なスループットの向上が得られます。

ひずんだ試料の詳細な分析

  • 材料のひずみを効果的に評価するためには、メガピクセルの解像度を持ち、パターン歪を最小限に抑えた検出器が不可欠です。
  • Symmetry S3は、これらの基準を満たすことができる唯一の検出器です。最大1244 x 1024ピクセルの回折パターンは、高角度分解能(HR)EBSDに理想的で、すべての検出器がサブピクセルの歪みを保証します。
  • この例では、高品質のEBSPとAZtecの洗練された精度の指数付けモードを組み合わせることで、ひずみのあるNiサンプル内の転位セルをどのように特徴付けることができるかを示しています。

どんな試料サイズでも解析可能

  • 大型サンプルは、従来のEBSD検出器を使用して分析することが難しく、SEMにおいて長い作動距離(WD)で分析する必要があるため、標準的なEBSDジオメトリを損なうことになります。
  • Symmetry S3は、ソフトウェアで制御されたチルト機能により、TEMフォイルからcmスケールの試料(in-situ試験用サンプルや地質薄切片など)まで、あらゆる種類の試料に対応した理想的なジオメトリに配置することができます。
  • このマップは、荷重方向のヤング率を計算するために使用された結晶粒配向データを持つ、大きな機械試験用Ti64合金サンプルのEBSDデータを示しています。

関連情報

その他アプリケーション

ナノマテリアルの成長と特性評価積層造形(3Dプリンター)清浄度管理構造部材・コンポーネント自動車用エンジンEV技術バッテリー技術太陽電池|構造特性評価射撃残渣分析コンポジット・構造機械・電子特性金属清浄度故障解析低次元構造の物性評価LED製造・特性評価品質管理・ケミカル判定ロックコア分析鉱物加工・ケミカル分析ロックストレス応答性電子顕微鏡
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