C-Nano+

C-Nano+は全ての材料やアプリケーションに対応するように設計されたEBSD検出器です。カスタマイズされたCMOSセンサーを搭載し、312 x 256の優れたピクセル解像度のパターンで最高600 ppsの収集スピードを達成します: これは同等のCCDベース検出器と比較して、4倍以上のピクセル数のパターンで約5-6倍のスピードとなります。 結果的に最もチャレンジングな材料においても優れたデータ品質を取得できる性能です。

C-Nano+の設計はレンズフリーな光学ファイバー系を採用し、優れた感度とサブピクセルレベルの歪みを保証します。高品質で鮮明なパターンが必要とされるひずみ詳細解析に最適な検出器です。 C-Nano+の感度は低電流（3 nA 以下）でも最高速分析スピードを保証し、最高のピクセル分解能でも900pps/nAの感度で電子線照射に弱い試料やナノ結晶材料の解析も可能にします。

C-Nano+はオックスフォード・インストゥルメンツのCMOS検出器の新しい設計の利点を有しています。一例としては高額な修理費用の原因となる不慮の衝突を防止する近接センサーも搭載されています。どんな時でも信頼できる結果を提供できる検出器です。