オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
拡張

AZtecClean

AZtecCleanは、自動車や航空宇宙産業で一般的に行われている技術的清浄度モニタリングや調査の一環として、粒子の検出と分析を行う世界有数のソリューションです。

AZtecCleanの特長:

  • 技術的清浄度解析に完全に最適化された粒子解析

  • AZtecのTruQ®アルゴリズムによる正確な元素同定

  • SEMによる自動データ収集、ISO 16232やVDA 19などの国際規格に準拠した粒子のクラス分けとレポート出力、部品の清浄度度コードの算出。


お問い合わせ

AZtecCleanは、 AZtecFeature 粒子解析プラットフォームを拡張したオプションで、技術的清浄度分析に完璧に最適化されています。SEMベースの自動分析により、ISO 16232やVDA 19などの国際規格に準拠した粒子の検出、識別、レポート作成が可能です。

AZtecCleanは、自動車および航空宇宙産業の分析要件を満たすよう特別に設計されており、すべての粒子を迅速、簡単、かつ正確に分析し、汚染物質の発生源の特定と適切な改善策の策定を支援する専用機能を搭載しています。

AZtecCleanは、オックスフォード・インストゥルメンツのEDS検出器 Ultim Max または Xplore と AZtecLive TruQ® アルゴリズムを用いて、最高レベルの分析スループットにおいても正確な元素同定と定量を保証します。

Montaged image of an entire filter holding detected partcles

粒子を検出したフィルター全体のモンタージュ画像

専用設計

  • 技術的清浄度測定に最適化された分析レシピ
  • ISO 16232およびVDA 19に準拠した粒子データの自動取得とレポート出力(部品清浄度コードの生成も含む)
LabelABCDEFGHIJK
Class/Length (μm)<55.0-1515-1525-5050-100100-150150-200200-400400-600600-1000>1000
All Features1861208529249579511161896130300
Ferrous Metals148224116281896343581710100
Steel - Low alloy136206315151781326531610100
Steel - Cr111431009612410000
Steel - High alloy13513195100000
Non-Ferrous Metals1613255262000000
Copper04430000000
Brass17441000000
W12130000000
Ti1210734151000000
CCC=V (B15/C14/D13/E11/F8/G6/H5/I2/JK00)

AZtecClean クラス分け表

AZtec Classification - 1
AZtec Classification - 2
AZtec Classification - 3

一般的な粒子を識別するための、カスタマイズ可能な専用の技術的清浄度クラス分けスキームを内蔵しています。



フレキシブル

  • 新しい粒子のクラス分けを簡単に追加・編集可能
  • キーとなる粒子から自動的に追加データを取得
  • 特定の汚染物質の同定など、一定の基準を満たした場合に自動的に分析を終了
  • 同じソフトウェア内で粒子のさらなる詳細な調査を実行
  • 様々なSEMに対応
  • 同じソフトウェアプラットフォームで追加分析が可能 (例、 WDS, EBSD)

迅速

  • 最大粒子分析速度 > 120,000粒子/時 (ハードウェア構成により異なります)
  • 最大4台のUltim Max検出器を組み合わせ、究極のスループットを実現

正確

  • フィールド境界で分割された大きな粒子を自動的に再構成し、正しい形状の計測を実現 – 部品の清浄度コードを正しく計測するために不可欠

ビデオ

AZtecClean: 設定と収集

このビデオでは、AZtecCleanを使用した技術的清浄度分析のためのEDS分析のセットアップと収集がいかに迅速かつ簡単であるかを紹介しています。

ギャラリー

中央の白い粒子は後方散乱電子像の明るさからでは、粒子を分離することはできません。

(A) 後方散乱電子像(BSE)では分離できない粒子

Aで示す中央の粒子をFeaturePhaseで解析すると、Bで示すように粒子内に2つの相(鉄とケイ酸塩)が存在することがわかります。

(B) FeaturePhaseによる粒子の分離

後方散乱電子像(BSE)では分離できない粒子(A)をFeaturePhaseで解析。
Bで示すように粒子内に存在する2つの相(鉄とケイ酸塩)を識別可能

ご質問はありませんか?お問い合わせはこちらへ

 
※当社のメールマガジンです。当社の新製品、ウェビナー、展示会などの最新情報をお届けしています。
分析についてお困りですか?