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C-Swift+

CMOS搭載高速EBSD検出器

C-Swift+は日常的な材料解析と高いスループットの試料分析向けに設計された、CMOS検出器ファミリーの最も新しい検出器です。Symmetry S3 検出器と同様にEBSD向けに設計されたCMOSセンサーを含む、革新的なEBSD検出器の機能の特長を有しています。

  • 指数付け時の速さ  > 2000 pps(保証値)

  • 622 x 512 ピクセルの EBSD パターン収集時の速さ 250 pps

    • 光ファイバーによる優れた感度で低エネルギーおよび低電流の下でも極めて高い感度
  • ひずみのない画像


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C-Swift+はクラスをリードする高スループットEBSD検出器です。As with the Symmetry S3 検出器と同様に、C-Swift+は速度と感度を両立するためのカスタマイズされたCMOSセンサーを搭載し、最もチャレンジングな材料においても高品質の結果が得られます。

C-Swift+の最高スピード2000 ppsは、良好なパターン解像度 (156 x 128ピクセル) でも達成されます。 同等のスピードで動作するCCDベースの検出器よりも4倍のピクセル数になり、高精度の指数付けと高いヒットレートを全ての試料で保証します。ひずみの無い光学系とAZtecソフトウェアの強力な指数付けアルゴリズムと合わせて、0.05°以下の角度精度を可能にします。高いパターンクオリティを要求されるアプリケーションでは、最高250 ppsのスピードで622 x 512のピクセル解像度のパターンを収集でき、複雑な結晶相の試料や結晶相の詳細な解析に最適です。

この検出器は高速で効率的な試料評価のために設計されています。特長的な近接センサーから内蔵された前方散乱検出器まで、システムの全てのコンポーネントは最高性能を引き出すため、また簡易な操作のため、全ての研究機関で標準的なEBSDツールとなるよう設計されています。

C-Swift+はスピードに重点を置く分析の標準器です:

  • 8nAの照射電流条件下で>2000ppsの指数付けスピードを保証
  • 低ドーズ、低ビームエネルギーでも高品質を保証する、光ファイバーと最適化されたフォスファースクリーンによる高い感度 – 空間分解能を最大化
  • 最高速でも156 x 128 ピクセル解像度のパターン – 高速CCD検出器を低速度で動作させた場合よりも4倍のピクセル数
  • フル解像度パターン (622 x 512) – 詳細な結晶相解析や変形解析に最適
  • 0.05°より良好な角度精度を保証。ゆがみの低い光学系
  • 最高スピードでもシームレスなEDS同時分析
  • 電子顕微鏡の高真空を保持するための、ベローズSEMインターフェース
  • 特長的な近接センサー – 衝突を事前に検知し、検出器を自動的に安全位置に退避
  • 最適な結果をいつでも取得できる、簡単で直観的な検出器設定
  • 5つの前方散乱検出器(オプション)を内蔵し、フルカラーの補助的なチャネリングコントラスト像と原子番号コントラスト像を取得

ダウンロードセンター

C+ シリーズEBSD検出器

C-Nano+、C-Swift+ はC+シリーズのEBSD 検出器です。様々なEBSDアプリケーションのために設計された第二世代のエントリーレベルの検出器です。(英語カタログ)

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Symmetry S3

Symmetry S3 は先進のCMOS技術に基づいた第三世代の検出器です。Symmetryはユニークな設計で検出器市場をリードします。(英語カタログ)

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AZtecHKL

EBSD解析プラットフォームAZtecHKLは、高速CMOSカメラ搭載EBSD検出の性能を発揮し、結晶方位や結晶相を高速・正確に測定します。(日本語カタログ)

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EBSD Explained

EBSD Explainedは24ページのチュートリアルで、初心者の方への基礎だけでなく、その理論を信頼性の高いEBSD分析結果を得るためにどのように使うかを示しています。(英語技術資料)

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アプリケーションノート - 高温EBSDを用いた相変態の直接観察

オックスフォード・インストゥルメンツのCMOS EBSD検出器用の新しい蛍光スクリーンについてご紹介します。このスクリーンは、高温EBSD実験中に発生する赤外線信号を光干渉フィルターで遮断します。この新技術により、高温条件下in-situでの微細構造変化をより速く、より高い感度で分析することができます。(英語アプリケーションノート)

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