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C-Swift+は日常的な材料解析と高いスループットの試料分析向けに設計された、CMOS検出器ファミリーの最も新しい検出器です。Symmetry S3 検出器と同様にEBSD向けに設計されたCMOSセンサーを含む、革新的なEBSD検出器の機能の特長を有しています。
指数付け時の速さ > 2000 pps(保証値)
622 x 512 ピクセルの EBSD パターン収集時の速さ 250 pps
ひずみのない画像
C-Swift+はクラスをリードする高スループットEBSD検出器です。As with the Symmetry S3 検出器と同様に、C-Swift+は速度と感度を両立するためのカスタマイズされたCMOSセンサーを搭載し、最もチャレンジングな材料においても高品質の結果が得られます。
C-Swift+の最高スピード2000 ppsは、良好なパターン解像度 (156 x 128ピクセル) でも達成されます。 同等のスピードで動作するCCDベースの検出器よりも4倍のピクセル数になり、高精度の指数付けと高いヒットレートを全ての試料で保証します。ひずみの無い光学系とAZtecソフトウェアの強力な指数付けアルゴリズムと合わせて、0.05°以下の角度精度を可能にします。高いパターンクオリティを要求されるアプリケーションでは、最高250 ppsのスピードで622 x 512のピクセル解像度のパターンを収集でき、複雑な結晶相の試料や結晶相の詳細な解析に最適です。
この検出器は高速で効率的な試料評価のために設計されています。特長的な近接センサーから内蔵された前方散乱検出器まで、システムの全てのコンポーネントは最高性能を引き出すため、また簡易な操作のため、全ての研究機関で標準的なEBSDツールとなるよう設計されています。
C-Swift+はスピードに重点を置く分析の標準器です:
C-Nano+、C-Swift+ はC+シリーズのEBSD 検出器です。様々なEBSDアプリケーションのために設計された第二世代のエントリーレベルの検出器です。（英語カタログ）
EBSD Explainedは24ページのチュートリアルで、初心者の方への基礎だけでなく、その理論を信頼性の高いEBSD分析結果を得るためにどのように使うかを示しています。（英語技術資料）
オックスフォード・インストゥルメンツのCMOS EBSD検出器用の新しい蛍光スクリーンについてご紹介します。このスクリーンは、高温EBSD実験中に発生する赤外線信号を光干渉フィルターで遮断します。この新技術により、高温条件下in-situでの微細構造変化をより速く、より高い感度で分析することができます。(英語アプリケーションノート)
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