オックスフォード・インストゥルメンツツの一部
拡張
Collapse
オックスフォード・インストゥルメンツ
アプリケーション
プロダクト群
NEW
イベント
お問い合わせ
投資家
キャリア
NEW
イベント
お問い合わせ
eコマース
jp
en
cn
jp
en
cn
投資家
キャリア
EDS
EDS for SEM and FIB >
Ultim Max
Ultim Extreme
AZtecLive
AZtecFeature
EDS for TEM >
Ultim Max TEM
AZtecTEM
X-Max 100TLE
X-Max TSR
X-Max 80T
Detectors
Ultim Max
Ultim Extreme
Software
AZtecGSR
AZtecSteel
AZtec LayerProbe
AZtecSynergy
AZtec3D
INCAMineral
EBSD
Detectors
Symmetry
C-Swift
C-Nano
Software
AZtecHKL
AZtecSynergy
AZtec3D
Post-processing Software
WDS
Detectors
Wave
Software
INCAEnergy+
プローブ
Nanomanipulators
OmniProbe 400
OmniProbe 200
Lift-out
OmniProbe cryo
Consumables
e-store
アプリケーション
先進製造技術
農業および食品
自動車および宇宙
バイオイメージングおよび生命科学
化学品および触媒
発電および蓄電
鑑識および環境
地質学・鉱物学・岩石学
金属・合金・複合材料・セラミクス
医薬品
ポリマー
半導体・電子機器・記憶装置
ライブラリ
Documents
アプリケーションノートライブラリー
製品カタログ（英語）
Webinars & Blog
Webinars
Blog
サポート
メンテナンス・サポート
保守契約
定期点検
延長保証
装置アップグレード
標準試料
LiveAssist
装置講習会
講習会概要
AZtecEnergy講習会（1日コース）
AZtecEnergy講習会
AZtecHKL講習会
INCA Energy講習会
INCA Wave講習会
Consumables
OmniProbe Consumables
AGAR (France)
AGAR (Sweden)
NEW
イベント
お問い合わせ
eコマース
Home
Products
Products
プロダクト・グループ (
何も選択されていません
)
AZtec
選択
詳細
EBSD
EBSD - 電子線後方散乱回折 - 微細構造解析のための強力なツール
選択
詳細
EDS
エネルギー分散型分光解析（EDS）は、SEMやTEM、FIB内で試料の元素や組成解析を提供します
選択
詳細
Nanomanipulation
Omniprobeマニピュレータは1995年以来業界を牽引してきました
選択
詳細
OmniProbe
選択
詳細
Ultim
選択
詳細
WDS
優れたピーク分離
正確な微量元素解析
最適化された元素検出
選択
詳細
Xplore
選択
詳細
INCA
選択
詳細
X-Max TEM
選択
詳細
← Previous
Next →
プロダクト・グループ
ALD
ALE
Apogee CCD カメラシリーズ
AZtec
Control Electronics
Cryofree Dilution Refrigerators
Cryofree Magnets
Cryostats for Microroscopy
Cryostats for Spectroscopy
Cypher Accessories: Control Temperature and Gas Environments
Cypher Accessories: Nanoelectrical Properties
Cypher Accessories: Nanomechanical and Thermal Properties
Cypher Accessories: Operating in Liquid Environments
Cypher AFM ファミリー
Dragonfly Confocal Microscopy System
DSiE
EBSD
EDS
Equipment Sales
GE Equipment Sales
GPU Express
Helium3 Refrigerators
Holospec Imaging Spectrograph
IBD
IBE
ICP Etching
ICPCVD
iDus 分光用カメラ
iKon-XL and iKon Large CCD Series
Image Analysis Software
INCA
Integrated X-ray Sources
Intensified Camera Series
iQ Live Cell Imaging Software
iXon EMCCD Camera Series
Jupiter AFM ファミリー
Komet Software
Kymera & Shamrock Spectrographs
Magnet System Configuration
Measurement Systems
Mechelle Spectrograph
MFP-3D Accessories: Adapting to Experimental Needs
MFP-3D Accessories: Control Temperature & Liquid Environments
MFP-3D Accessories: Control Temperature and Gas Environments
MFP-3D Accessories: Nanoelectrical Properties
MFP-3D Accessories: Nanomechanical and Thermal Properties
MFP-3D Accessories: Other Driving Forces
MFP-3D AFM ファミリー
Microscopy Components
Mobile Imaging Units
Nanomanipulation
Nanoscale Growth
Newton CCD および EMCCD カメラ
NMR Spectrometers
OmniProbe
PECVD
Philips Equipment Sales
Power Supplies
QA/QC Analysers
RIE Etching
Rock Core Analysers
sCMOS Camera Series
Service
Siemens Equipment Sales
Software Development Kit
Solis ソフトウェア
Ultim
WDS
Wet Dilution Refrigerators
Wet Magnets
X-Max TEM
X-ray Tubes
光刺激
多波長イメージング
高エネルギー検出器
アプリケーション
X線透視法 - トモグラフィーとマイクロCT
スペックルとラッキーイメージング
ナノマテリアルの物性評価
バッテリー技術
モジュール光学分光法
モジュール式顕微分光法
不正物質の迅速分析
低次元構造の物性評価
光学イメージングシステム
大気深宇宙イメージング
太陽光発電技術
太陽天文学
太陽系外惑星発見
応用光学
発光デバイスの製造と評価
蛍光顕微鏡
近地球物体と宇宙破片
量子伝導測定
量子光学
量子情報処理
ビジネス
Andor
Asylum Research
Healthcare
Imaris
Magnetic Resonance
MRI
NanoAnalysis
NanoScience
Plasma Technology
X-Ray Technology
Sort by (
)
プロダクト・グループ
プロダクト・グループ
名前(A-Z)
名前(Z-A)
結果が見つかりませんでした。検索の範囲を広げてみてください.
1頁:
ローディング...
新しくタブを開く
オックスフォード・インストゥルメンツツの一部
