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Relate

Relateは、電子顕微鏡像、EDS、EBSD、AFMのデータや画像を扱うために最適化された相関ソフトウェアパッケージです。  異なる顕微鏡からのデータを相関させ、2Dおよび3Dの多層データを可視化し、相関解析を行うために必要なツールを提供します。

  • 異なるイメージング方法(AFM、EDS、EBSDなど)からのデータの組み合わせ

  • 多層相関データのインタラクティブ表示

  • メタデータ調査のための解析ツール

  • ワークフローとプロセスの文書化


お問い合わせ

相関性

  • H5oinaファイル形式を使用してAZtecからデータをインポート
  • AFMデータのインポート
  • 直感的なイメージオーバーレイとイメージマッチングツールを使用した、両方のデータセットの相関
  • 複数データを組み合わせたデータセットの作成

可視化

  • 多層データの2D表示
  • AFM材料特性、電子顕微鏡画像、EDSおよびEBSDマップオーバーレイを組み合わせたマップの3D可視化
  • カラーパレット、データオーバーレイ、画像レンダリングオプション、ドキュメント表示のカスタマイズ
  • 画像やアニメーションのエクスポート

解析

  • 複数データのプロファイル(断面)ビューの生成
  • 複数のレイヤーにまたがるデータの測定と定量化
  • X線のカウント数、相マップ、高さ、またはその他の材料特性を使用した、データのしきい値を経由した領域分析
  • 幅広い測定パラメータを選択
  • 分析データをテキストやCSVファイルにエクスポート
                                                                                    機能 Relate 立体視オプション 画像解析オプション
HDF5データスタック、IBW(アサイラムリサーチAFM)ファイル、一般的な画像フォーマット(例. TIFF, PNG, JPEG)のインポート  Included        Included          Included
データスタックと画像の相関 Included        Included          Included
複数レイヤーの2Dおよび3Dデータの可視化  Included        Included          Included
表示の最適化(編集可能なパレット、ライティング、再スケーリング、回転、レンダリングオプションなど) Included        Included          Included
イメージレンダリング、3Dアニメーション、ビデオエクスポート  Included        Included          Included
2D・3Dデータからのプロファイル抽出 Included        Included          Included
閾値に基づくROI選択の定量化 Included        Included          Included
ROIから定量的な相関データの選択とエクスポート  Included        Included          Included
ワークフローの文書化とテンプレートの構築 Included        Included          Included
立体SEM画像からの3次元再構成         -        Included                 -
単一電子顕微鏡画像と4分割BSE画像からの3次元再構成         -        Included                 -
 電子顕微鏡画像の色付け         -        Included                 -
MATLABからカスタムスクリプトのインポート         -        Included                 -
テクスチャ解析         -              -          Included
しきい値や形態フィルタによる画像のセグメンテーション         -              -          Included
形態の統計解析         -              -          Included
クロム(青)とニッケル(黄)のEDSマップと二相鋼サンプルのAFMトポグラフィーを重ね合わせ

二相鋼サンプル。トポグラフィ(AFM)、磁区(MFM、黄色)をEBSD相マップ(青と赤)と粒界(グレースケール)と組み合わせて表示

回路基板のサンプル。EDSマップは、酸素(赤)、アルミニウム(緑)、チタン(青)の分布を(AFMを使用して得られた)トポグラフィーに重ね合わせて表示。

SRAMデバイスのヒ素(青)と炭素(赤)の分布を示すEDS像をオーバーレイ表示した電子顕微鏡画像(グレースケール

炭素(オレンジ)とヒ素(青)の分布を示すEDS像をオーバーレイ表示したSRAMデバイスの表面トポグラフィー(AFM)

高さに換算した画像強度で、SDチップ上の導電性領域を示

 

チュートリアル 1: 起動、新規ドキュメントのオープン、データのインポート

 

 

チュートリアル2: 電子顕微鏡、EDS、AFMデータセットの相関性

 

 

 

 

チュートリアル3: 多層・複数相関データセットを視覚化するための表示オプション

 

 

 

 

チュートリアル4: 多層・複数相関データを3Dで可視化

 

 

 

チュートリアル5: 相関性のある多層データセットからプロファイルまたは断面データの抽出

 

 

 

チュートリアル6: 多層相関顕微鏡データセットからの定量データの測定とエクスポート