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X-MaxN TSR

TEM アプリケーション向けの本ウィンドウレスシリコンドリフト検出器センサは、0.3 ∼ 0.7 ステラジアン* の範囲の検出立体角を実現することができます。スペクトル範囲全体、特に軽元素の優れた検出効率は、すべてのエネルギー領域でのより多くの計数率を意味しています。

*構成、ポールピースと TEM に依存します。TEM 検出器の性能についての最も重要な測定値はその立体角になります。立体角は顕微鏡とポールピースの設計によって異なります。 X-MaxN TSR では、立体角が最大になるように結晶と試料の間の距離を最適化しています。

  • 従来の 200 kV 電界放出型 TEM に最適

  • 軽元素について最大 3 倍の検出効率

  • 妥協のない、低エネルギーでの性能、ピーク対バックグラウンド比、または分解能


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TEM アプリケーション向けの本ウィンドウレスシリコンドリフト検出器センサは、0.3 ∼ 0.7 ステラジアン* の範囲の検出立体角を実現することができます。スペクトル範囲全体、特に軽元素の優れた検出効率は、すべてのエネルギー領域でのより多くの計数率を意味しています。

  • 従来の200kVフィールドエミッションTEMに最適
  • 3倍の軽元素収集効率
  • 妥協のない低エネルギー検出性能、ピークーバックグラウンド比、分解能

関連情報

その他アプリケーション

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