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X-MaxN 80T

The X-MaxN シリーズの TEM 向け SDD は、新しいセンサ素子、新しいエレクトロニクス、および革新的なパッケージングを活用して、真に⌈次世代の⌋ SDD 性能を実現しています。

  • X-MaxN TEM 検出器は、最新の低ノイズ検出器設計を使用、高計数率でも優れた分解能と感度を実現しています。

  • 定常的な TEM アプリケーション用に特別に設計された X-MaxN 80 T の大面積 80 mm2 センサは、優れた立体角と分析性能を実現しています。

  • スループットと低エネルギーでの感度を最大化する設計です。

  • 50,000 cps において優れた分解能を有しています。(Mnで性能を保証)

  • 最良のピーク/バックグラウンド比と軽元素検出のために最適化された取り出し角です。

  • フィールドエミッション型、収差補正顕微鏡を含むすべてのクラスの TEM で実績のある性能

  • AZtecTEM TruMap ソフトウェアを使用したリアルタイムのバックグラウンド除去およびピークデコンボリューションを含む、X線マップの迅速取得につながる計数率


お問い合わせ

大型センサを使用する重要性
  • 低い電子ビーム電流においても生産的な計数率
  • 撮像性能と精度の最大化
  • X線分析のための撮像条件変更は不要
  • 同一の電子ビーム電流で著しく高い計数率
  • データ取得時間の短縮
  • より優れた統計的信頼性
  • 小さい電子ビーム径での実用的な分析
  • 空間分解能を最大化
  • 高分解能 TEM を最大限に活用

Size matters, sensitivity counts

  • 同じ条件では、より大きな検出器が有利
  • 数分かけていた分析を数秒で – マッピングを日常の分析ツールに
  • 同じ分析時間でも正確さが劇的に改善
  • 大面積検出器 – どんな試料でも日常的に高速ミクロレベル解析
  • 低エネルギースペクトルを簡単に同定

Low energy matters, sensitivity counts

  • X-MaxN 80 T は低エネルギー性能に最適化されています – サイズで妥協しません
  • 全ての検出器でBe検出を保証 Si Llのマッピング可能
  • 大面積検出器 – どんな分析でも低エネルギー分析を実用的に

Size matters, spatial resolution counts

  • 高解像度分析条件では低いX線生成
  • 大面積けんしゅつきが実用的な分析時間で高品質の低エネルギースペクトルを収集
  • ナノスケール粒子をより良い解析
  • 大面積検出器 – すべてにおいて高度なナノ分析

ご興味ございますか?

その他アプリケーション

ナノマテリアルの物性評価低次元構造の物性評価発光デバイスの製造と評価ロックコア分析