オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
拡張

OmniProbe 350

OmniProbe 350は、クローズドループフィードバック付きピエゾモーターを搭載した3軸、ポートマウント型マニピュレーターで、ルーチンのTEMラメラ作成に最適です。精密で直感的なコントロールにより、ダメージやサンプルの損失のリスクなく、迅速かつ確実な作業を行うことができます。


お問い合わせ

第9世代のプローブ設計をベースにしたOmniProbe 350は、他の検出器やアクセサリーとの干渉を最小限に抑えたコンパクトなポートマウントの設置面積で、正確なナノスケール制御を実現します。  安定したプローブプラットフォームとサブナノメートルの圧電モーターを搭載した現行世代のプローブは、低振動、低ドリフト、優れた位置決め精度を備えており、画像に合わせて移動方向が調整される直感的なユーザーインターフェースと組み合わされています。

その結果、日常的なリフトアウトではクラスをリードする性能を発揮し、可変チルトグリッドホルダーと組み合わせることで、OmniProbe 350は、グリッドや複雑な多段リフトアウトを直接処理することなく、平面やTKDサンプルを作成することができます。

ダウンロードセンター

OmniProbe 350

OmniProbe 350が、高速かつ効率的なルーチンTEMラメラ作成のためのクラス最高の3軸ナノマニピュレーターである理由を発見してください。

ダウンロード

優れた直線性 - 直線性とは、要求された移動方向からのプローブ先端の偏差の尺度です。  すべての方向に直線的に移動するプローブは、以下のことができます。:

  • 溝の側面にぶつかることなく、安全にリフトアウト
  • 微細な溝を利用したTEMラメラの高速作成を実現

直感的なユーザーインターフェース - 電子顕微鏡像の中のプローブの動きを直接反映した制御

スムーズな連続動作 - ラメラ前処理ワークフローでは、プローブを物理的に接触させる必要がありますが、スムーズな動きにより、サンプルを落下させたり、損傷させたりするリスクなく行うことができます。

正確な動き (位置保存含む)

  • 完全に格納された状態からワンクリックで操作位置に移動
  • ユーザー定義の作業位置を保存

安定したプローブプラットフォーム - 安定性は振動とドリフトの組み合わせです。  プローブ先端へのサンプルの取り付けは、数分かかることもあるガスデポジションプロセスによって行われます。  このプロセス中にプローブ先端のドリフトや振動が発生すると、サンプル内に応力が発生したり、サンプルが切断された時点で急激に移動したりする可能性があります。

  • 安定したOmniprobeプラットフォームは、アイドル時の振動やドリフトを最小限に抑え、これらのリスクを軽減します。

ポートマウント設計 - 顕微鏡を使用していない時には完全にチャンバー内に収納

  • サンプルサイズの制限なし
  • ステージ傾斜の制限なし
  • 他の検出器やアクセサリーとの干渉なし

プローブの電気的接続 - 電圧コントラストイメージングのための +/-10V 電源供給

  • 低ノイズオプションは、サードパーティ製の電子機器と組み合わせてEBIC、EBAC、その他の電気的試験方法を行うことができます。

以下の便利な比較表を使用して、アプリケーションに最適なOmniProbeを選択し、仕様を比較してください。

仕様                                                    OMNIPROBE
Cryo OmniProbe 350 OmniProbe 400
リニアリティ 500 nm 500 nm 250 nm
エンコーダー分解能 100 nm <50 nm 10 nm
挿入再現性 5 μm 5 μm 2 μm
最小速度 100 nm/s 50 nm/s 10 nm/s
最高速度 250 μm/s 250 μm/s 500 μm/s
同心回転
アプリケーション
Site specific lift-out
Plan-view P P
Vent free plan-view
Backside Thinning P
アトムプローブトモグラフィー試料の前処理 P P
極低温リフトアウト
電圧コントラストイメージング ✔*
チャージの中和
On-Tip分析
EBIC測定 O O
EBAC測定 O O
In Situチップ交換 O

P: OmniPivotホルダが必要  O: オプション * cryo接続されている場合不可

関連情報

その他アプリケーション

積層造形(3Dプリンター)自動車用センサバッテリー技術太陽電池|構造特性評価コンポジット・構造故障解析LED製造・特性評価ロックコア分析電子顕微鏡