低加速電圧EDSを用いたNAND型フラッシュ・メモリ・デバイスの解析
X-Max Extreme と高分解能SEM を組み合わせることで、10nm 未満のナノ構造の形態や化学的性質を調べるための、他に類を見ない便利で強力なイメージングおよび解析ツールを提供します。フェロセリウムナノ粒子とGaInAs量子ドットの例を用いて、この機能を実際に実証しています。
Ultim Max EDS検出器は、ハイエンドの技術を用いて、精度や品質に妥協することなく、比類のない速度と感度を実現しています。このシリーズの検出器は、最大のセンサーサイズ(最大170mm2)とExtremeエレクトロニクスを組み合わせて、優れた性能を実現しています。
低エネルギーX線(CKaおよびFKa)および高エネルギーX線(MnKa)での性能を、すべてのセンサーサイズで同じ130,000cpsという生産性の高いカウントレートで保証しているのはUltim Maxのみです。性能は、出荷前にSEMでテストされ、設置時にもテストされます。最も厳しい分析条件(高カウントレート、低加速電圧、in-situ試験)でも、すべてのUltim Maxが優れた結果を実現することを保証します。
すべてのUltim Max検出器は、電動スライド機構を内蔵し、必要なときに簡単かつ迅速に挿入でき、使用しないときには格納することができます。
Ultim Maxは、次世代のシリコンドリフト検出器(SDD)です。最大のセンサーサイズとExtremeエレクトロニクスを組み合わせることで、比類のない速度と感度を実現しています。
Ultim Maxの大型SDDセンサーは、精度を落とすことなく、最大17倍のデータを同時に収集することができます。より広い範囲をマッピングしたい、各データポイントでより優れた統計値を取りたい、より速くデータを収集したい、あるいは最小のナノ構造を調査したいなど、Ultim MaxはSEMでのX線分析のための究極のソリューションです。
ExtremeエレクトロニクスとX4パルスプロセッサーの組み合わせにより、UltimMaxは1,500,000 cpsのカウントレートでサンプルをマッピングし、400,000 cpsで組成を正確に定量化することができます。
Extremeエレクトロニクスはノイズが非常に少ないなっています。これにより、72eVまでのX線ラインの正確な識別と特性評価が可能になります。
低エネルギー分解能が保証された最大級のセンサーを搭載したUltim Maxは、低電圧での分析に最適であり、ナノスケールでの分析能力を最大限に発揮します。
Ultim Maxの大型センサーとハイスループットでの性能により、電子顕微鏡では初めてライブケミカルイメージングが可能になりました。
Ultim Maxの大型SDDセンサーは、精度を落とすことなく、最大17倍のデータを同時に収集することができます。より広い範囲をマッピングしたい、各データポイントでより優れた統計データを取得したい、より速くデータを収集したい、あるいは最小のナノ構造を調査したいなど、Ultim MaxはSEMでのX線分析のための究極のソリューションです。
新世代のSDD検出器シリーズであるUltim Maxは、最大のSDDセンサーと特長的なExtreme Electronicsを組み合わせた検出器です。
X-Max Extreme と高分解能SEM を組み合わせることで、10nm 未満のナノ構造の形態や化学的性質を調べるための、他に類を見ない便利で強力なイメージングおよび解析ツールを提供します。フェロセリウムナノ粒子とGaInAs量子ドットの例を用いて、この機能を実際に実証しています。
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