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ウェビナーライブラリへようこそ!様々な応用分野を網羅し、また製品を紹介する多くのウェビナーを開催しています。今後取り上げてほしいトピックス等がございましたらご意見をお聞かせください。

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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社主催ウェビナー

WDSの基礎 - 分光の原理と特徴

WDSはX線情報をもとに元素を調べる分析機器です。EDSと同じ情報を基にしながら、微量元素や特定の元素分析などの用途で特に強みを発揮します。分析の原理と、WDSの特徴を生み出しているハードウエアについてご説明します。WDSのお客様はもちろん、通常のEDS分析の「もう少し先」に興味がある方も必見です。

(2020/7/28 16:00)

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EBSDの基礎 - 原理と用途

結晶性材料の方位分布を可視化して材料特性の評価につなげることができるEBSD(Electron Backscattered Diffraction)。このEBSDの測定原理と実材料への応用例を紹介します。こんなことに使えるのだと現在のトレンドを確かめてお役に立ててください。

(2020/7/3 16:00)

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EDSの応用-粒子解析

材料開発から不良解析まで、EDS分析は様々な分野で幅広く使用されています。その中でもSEM-EDSを使った自動粒子解析は近年注目されている分析法です。本ウェビナーでは粒子解析の手法を原理からご説明します。後半ではオックスフォード・インストゥルメンツ社の自動粒子解析システムAZtecFeatureを現在お使いの方向けに、分析効率化のコツもご紹介します。どうぞお楽しみに!

(2020/6/5 16:00)

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EDSの基礎-マップ分析

EDSマップ分析は元素の分布を知るために必須の分析手法です。正しい元素マップを取得するためにはどうすればよいのか?注意すべきことは何か?EDSマップについてわかりやすく説明します。受講された後は、ご説明内容の資料をお送りすることもできます。この機会にマップ分析の基礎を学び、分析業務をレベルアップしてみませんか?

(2020/5/21 16:00)

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EDSの基礎-発生原理、スペクトル生成とは?

これまでEDS分析を手探りで進めてきた方に朗報です。EDSの基礎を、実際の分析に即して基礎からわかりやすく解説します。スペクトルやマップに含まれる意味やデータの解釈の仕方がわかれば、今後の分析のお仕事に活かして一段高いレベルに進むことができます。

(2020/4/24 16:00)

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Oxford Instruments (UK) Webinar

科学捜査におけるSEMをベースとした解析 - GSRとその先

このウェビナーでは、分析システムを搭載した走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて、法科学的な痕跡や証拠の幅広い分析をどのように行うことができるかをご紹介します。

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EDSを用いたSEMにおける薄膜の組成・構造解析

このウェビナーでは、既存のSEM上でEDSを使用して薄膜層構造の評価を迅速に行うためのAztec Layerprobeの利点について説明します。Layerprobeを使用することで、わずか2 nmの薄い膜でも、迅速かつ正確な結果を得ることができます。

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低エネルギーX線マイクロアナリシス: Extreme

低エネルギーマイクロアナリシスには、ウィンドウレス、感度の向上、エネルギー分解能の向上などのハードウェアの改善が必要です。  またピーク分離のためのソフトウェアの改良も必要です。  

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AZtecCrystal: 新しいEBSDデータ解析ソフトウェア

オックスフォード・インストゥルメンツは、AZtec EBSD収集ソフトウェアに付属するAZtecCrystalをリリースしました。  このウェビナーでは、既存のお客様と将来のお客様に、ソフトウェアのインターフェイスと処理能力をご覧いただけます。

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鉱物試料の高速分析

このウェビナーでは、南アフリカのブッシュベルト火成岩複合体からのクロマイト含有パイロキセナイト、世界最大の白金族金属の埋蔵量を誇るスコットランドの金鉱床など、さまざまな鉱石含有試料をEBSDおよびEDSで高速分析した例を紹介します。 

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自然界のイメージング

このウェビナーでは、電子顕微鏡のアートについて議論します。生物学試料において印象的で有益な画像を得るために、EDSがどのように使われるのか、またアートと科学の両方にわたる進行中の共同プロジェクトの一環として、大気汚染を研究するためにこの技術をどのように使用してきたかについても議論します。

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全てのSEMで正確で速いSEM-EDS分析を 

このウェビナーでは、新しいXploreシステムとAZtecLiveを組み合わせ、粒子解析や品質管理、ルーチン的な材料解析などを含む様々な用途での使用例をご紹介します。この新しいシステムは、ハイエンドシステムで培われた技術を使い、正確で速いEDS分析、またライブEDSを全てのユーザーの方にご使用いただけるようになりました。

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付加製造合金中の加熱による微細構造変化

EBSDのin-situ加熱実験の課題をどのように克服するか、また加熱レートが熱再結晶メカニズムにどのように影響を及ぼすかについて議論します。高速・高感度なCMOS EBSD検出器が、室温での核形成フェーズにおける冷却レートの効果を測定可能であるかを探ります。

 

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EDSのライフサイエンス分野への応用:生物学元素分析に関する試料の考察

エネルギー分散型X線分析(EDS)の生物学分野への応用を探り、試料準備に関連する課題を認識し、より良い結果を得るための試料準備方法と画像収集条件を、細胞の超微細構造の識別とイメージングにおけるEDSの使用方法とともに提示します。

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材料解析ツールとしての卓上型電子顕微鏡

このウェビナーは、迅速、簡単、再現性のある組成分析と材料解析のための、エネルギー分散型X線分析(EDS)を搭載した卓上型電子顕微鏡の性能の広がりについて議論します。

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生物学試料の迅速な元素分析

生物学試料中の微細構造粒子の高速かつ正確な(特別なラベリングを必要としない)元素分析のための走査型電子顕微鏡の可能性について議論します。 

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ナノ解析から見たバッテリーの将来

エネルギー分散型X線分析(EDS)と電子線後方散乱回折(EBSD)を搭載した走査型電子顕微鏡(SEM)を使用した次世代バッテリー開発のためのLiベースの結晶相をどのように解析するのかを説明します。このウェビナーではお客様が生産工程や不良発生メカニズムと解決法の調査を通じて、どのように材料の品質をモニターできるのかを説明します。

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発電・蓄電分野でのナノ材料評価の最新情報

光電デバイスにおける構造・物性関係を調査するために、電子顕微鏡がどのように光学顕微鏡や走査型プローブ顕微鏡分析と組み合わされるか、またリチウムイオンバッテリーの部品でどのように解析されるかを説明します。

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半導体不良解析ソリューション 

半導体不良解析は、不良品を大量生産品から取り除くために、不良発生源をつきとめるための骨の折れる捜査が要求されます。 Discover オックスフォード・インストゥルメンツのソリューションがどのようにそれらを打開するかを明らかにします。

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テクノロジーブレークスルー:CMOS搭載検出器がもたらすEBSD分析の変革

オックスフォード・インストゥルメンツのCMOS搭載EBSD検出器を紹介し、従来の電荷結合素子(CCD)に対するCMOSセンサーの技術的な利点を議論します。

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AZtecLive: SEM-EDS分析の革新的なアプローチ

AZtecLiveがもたらす電子顕微鏡での元素分析における全く新しいアプローチ方法をご説明します。いくつかのアプリケーション例とわずかな時間で得られたデモンストレーション結果を紹介します。

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TEMに対応したEDSハードウェア・ソフトウェア技術の最新開発状況

このウェビナーでは、検出器設計が立体角に及ぼす影響と、これらの設計がTEMにおける様々な異なるアプリケーションで立体角を最大化するために最適化されるかを議論します。in situ実験のための新しい検出器の能力にフォーカスします。

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高速粒子解析システムの最新技術と新しいアプリケーション

自動データ収集と粒子やグレイン、介在物等の形態と組成データを使ったクラス分けは、様々な分野で不可欠の技術となっています。なぜAZtecFeatureが最速で最も信頼性の高い粒子解析ツールであるかを明らかにします。

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大気中粒子:それはどこから来るのか、我々に与える影響は?

走査型電子顕微鏡(SEM)を使ってどのように大気中粒子の問題を解析するか、またその情報をどのように使用し、解釈するかを説明します。

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極限環境において使用するために開発された材料の特性評価とモニター

電子顕微鏡におけるEDSとEBSDの組み合わせが、生産および製品の信頼性を保証するための材料評価にどのように使用されるかをご説明します。

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AZtecGSRによる発砲残渣解析

このウェビナーはSEMに搭載したAZtecGSRシステムによる発砲残渣解析について説明します。  この技術は迅速かつ正確で、ASTM E1588 - 10e1標準に従った再現性のある結果を得ることができます。 AZtecGSRはガイド化されたワークフローにより簡単に使用でき、最新のUltimMax検出器とTruQアルゴリズムが搭載されています。

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3Dプリンター材料の電子顕微鏡を使用した評価

3Dプリントプロセスの強力な解析ツールとしての電子顕微鏡の役割を評価し、EDS自動粒子解析を使った粉末原料の清浄度をいかにして制御するか、またEBSDの微細構造解析で工程終了後の部品の品質を保証するかを説明します。

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