食品および農業部門の解析者に課されるテーマとして、例えば、食品混入物質の特定、食品材料そのものの分析、植物ベース材料の包括的研究などがあり、多種多様なサンプルが解析対象となります。もちろん、これらに限定されるものではありません。解析作業においても、電子顕微鏡サンプルの準備、適切な解析条件の確認、サンプルの理解に必要な情報整理、など多くの課題に直面します。

食品混入物質を特定する場合、X線 ED 分光器の使用が一般的ですが、決してパワフルさで見劣りするツールではありません。未知の物質中の元素を特定する能力およびその特性を見極める能力は、汚染物形成物質の特定、さらにはうまくいけば、汚染源の排除にもつながる可能性を秘めたツールです。

食品および植物ベース材料を解析する場合、材料の物理的特性が、サンプルを損傷または破壊させないという解析条件のネックとなるケースが数多く見受けられます。これらのサンプルからはほどほどの強度のX線しか発生させることができず、これが解析ツールとしての EDS 分光器の実用面での障害と見なされてきました。しかしながら、新たに開発された EDS シリコンドリフト広域検出器は、サンプルから放出されるX線の信号レベルを検出器側で増幅することによりこの制約を取り払いました。食品および農産物サンプルの解析及び特性評価用の有効なツールとして、EDS X線分光器の潜在力が高まっています。