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2020年11月18日/19日 (日本時間)
ウェビナー開催のお知らせ: 高解像度材料解析

材料の元素特性評価とイメージングの境界を超える

ウェビナー開催日: 2020年11月18日/19日 (日本時間)

高解像度ナノスケールSEMベースの解析に苦労していませんか?このウェビナーでは、講演者が課題を特定し、結果を最大化するための顕微鏡条件の最適化に関する情報を提供し、高分解能SEMとウィンドウレスEDS分析を組み合わせることで、主要な材料特性のナノメートル化学分析を可能にする価値を示します。

ウェビナーで得られる情報: 

ご参加登録

2つのセッションをご用意しております。ご希望の時間をご選択ください。

*注: 下記開催時間は、英国時間および日本時間を記載しております。   
9:00 - 10:00 AM GMT (日本時間 2020/11/18 PM 6:00 - 7:00) 4:00 - 5:00 PM GMT (日本時間 2020/11/19 AM 1:00 - 2:00)
Dr. Sam Marks

講演者: Dr. Sam Marks | Oxford Instruments

Dr. Sam Marks graduated with a doctorate in Physics. He joined Oxford Instruments in 2018 and has always worked with a strong focus on electron microscopy. Sam has focused his research on S/TEM, in particular in-situ characterisation. He is currently working as a TEM Product Manager within the EDS Product Marketing team.
Dr. Kaoru Sato

講演者: 佐藤 馨 様 | JFEテクノリサーチ株式会社

Dr. Sato started his career as an engineer early 1980's. In 1989 he received a Ph.D. from the University of Cambridge, U.K. In 2005, Kaoru began working at JFE steel as the General Manager of the Analysis & Characterisation Research Department. In 2011 he advanced to Principal Researcher at JFE Steel Coropration. From 2016 onwards, he has worked as a fellow of JFE-TEC, specialising in electron microscopy and microbeam analysis.
Dr. Ben Tordoff

講演者: Dr. Ben Tordoff | Zeiss

Dr. Ben Tordoff is the current head of materials science at ZEISS Research Microscopy Solutions. Driven by an interest in multimodal and multiscale analytical microscopy, Ben has held several positions over his almost ten-year career at ZEISS and currently drives strategy related to artificial intelligence, correlative microscopy, and multiscale imaging and analysis across a broad range of materials science challenges. As part of his role, he also acts as a guest lecturer in analytical microscopy and industrial Ph.D. supervisor at several E.U. universities.

Ultim® Extreme

究極の空間分解能と低エネルギーX線検出性能を備えた SEM 用の EDSです。エクストリーム エレクトロニクスとウィンドウレス構造、最適化されたジオメトリとセンサー設計を組み合わせることで、従来の大面積 SDD に比べて最大 15 倍の感度を実現しています。

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