オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
拡張

Near-Axis TKD (NA-TKD) スクリーン ー  最も高い感度を実現したTKD

オックスフォード・インストゥルメンツのTKD(Transmission Kikuchi Diffraction)用の新しい独自のスクリーンは、業界最先端のCMOS EBSD検出器と組み合わせることより、市場において最も感度の高いTKDソリューションを提供します。

NA-TKDの感度の向上により、以下のことが可能になりました。:

  • 電子線により損傷しやすい試料の解析 
  • プローブ電流の低減による空間分解能の向上
  • 従来型分析より高いスループット 
お問い合わせ

Near-Axis TKDとは?

NA-TKDは、透過電子線の軸に近いジオメトリに角度のついたスクリーンを配置するTKD技術で、off-axis TKDのすべての利点と感度の向上を実現します。

NA-TKDスクリーンは、TKD分析用に最適化された傾斜スクリーンで、当社のすべてのCMOS EBSD検出器と互換性があります。

NA-TKDスクリーンは、最適化されたサンプルホルダーと、スクリーン交換に必要なすべての器具を付属したキットの一部として提供されます。

カタログダウンロード

Compatible with....

ご質問はありませんか?

ご質問がありましたら、オックスフォード・インストゥルメンツにお問い合わせください。

※当社の個人情報の取扱いについてはリンクページをご覧ください。

ご質問・お問い合わせ
分析についてお困りですか?