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半導体、電子機器、記憶装置
プロセス管理および粒子解析

大量生産になると、製品の品質を維持し、供給された部品の工程でのばらつきを迅速に特定することが非常に重要になります。変動はしばしば汚染物質や粒子の存在によって識別されます。

プロセスのばらつき、汚染、またはハードパーティクルの存在は、デバイスが開発から量産に移行する際に重大な問題を引き起こす可能性があります。例えばハードディスクドライブにナノメートルサイズの粒子が存在すると、ディスクの故障やヘッドクラッシュを引き起こす可能性があります。品質を確保するためには、これらの汚染物質や粒子を迅速かつ正確に識別、分析、分類することが非常に重要です。異物を正確に分類することで、故障やプロセスの変動の根本原因を迅速に特定し、ダウンタイムを最小限に抑え、生産性を最大化し、サプライチェーンを通じて品質を確保することができます。AZtecFeatureは、ガイド付きワークフローとインテリジェントなアルゴリズムを使用して、広いサンプル領域に存在する数千個の異物を簡単に検出し解析します。

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アプリケーションノート

AZtecFeatureによるパーティクル・粒子解析

ここでは、エンジンの摩耗監視、地質学、大気清浄度、汚染の観点からAZtecFeatureを検討します。AZtecFeatureの主な改良点と、最近のEDS検出器ハードウェアの進歩を組み合わせることで、産業界や学術界のより幅広い研究者や実務者にとって、AZtecFeatureがどのように説得力のある提案になるかを説明します。

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