Analysing a NAND Flash memory device using low kV EDS
X-Max Extreme を使用することで、10nm 未満のナノ構造の形態や化学的性質を調べるための、他に類を見ない便利で強力なイメージングおよび解析ツールを提供します。フェロセリウムナノ粒子とGaInAs量子ドットの例を用いて、この機能を実際に実証しています。(英語アプリケーションノート)
ビデオレートの電子像と化学組成画像により、化学組成によるリアルタイム位置探索を初めて実現しています。
関心のある注目部分を決して見失うことがないように、過去の探索位置、検出された元素の種類が自動的に記録されます。⌈ホットスポット⌋を素早く見つけ出すには、元素の位置と濃度の両方を調べる必要があります。
Extreme のエレクトロニクスと X4 パルスプロセッサの組み合わせにより、Ultim Max は 1,500,000 cps の計数率で試料をマッピングし、400,000 cps で化学組成を高精度に定量することができます。
検出器サイズは非常に重要です。最大 170 mm2の広い Ultim Max センサ面積を使用して、最も要求の厳しい分析条件下で比類のない計数率を実現します。
AZtecLive インターフェースを介した、リアルタイムの化学組成のフィードバックにより、AZtecLive は、試料の迅速かつ総合的な分析を実現することができます。電子顕微鏡と EDS ソフトウェアの間を往復する必要はありません。ライブのTVレートの電子像とX線マップを見ながら、関心のある注目部分を見出すまで試料上を位置探索し、目的の場所で停止すると、AZtecLive が自動的に積算モードに切り替わり、高品質の画像とX線マップのデータが収集され、試料の詳細を観察することができます。
Ultim Max の大型 SDD センサを使用することにより、精度を犠牲にすることなく、同一時間内に最大 17 倍も多いデータを収集することが可能となります。より広い領域のマップ、各データポイントの統計精度の向上、データのより迅速な収集、あるいは最小のナノ構造の解析など、いずれの場合においても SEM におけるX線分析のための究極のソリューションです。
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